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Identification Of Structural Damage Location Using Impedance Sensors: Validation Of Wireless Sensor System
Sprache: Englisch
Verlag: Lap Lambert Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 3846593621 ISBN 13: 9783846593622
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 176 pages. 8.66x5.91x0.40 inches. In Stock.
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Smart Sensor for Monitoring Excavation of Mass Rapid Transit Station: World*s First application of PZT Impedance Sensors for Monitoring Civil Engineering Construction in Singapore
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 384543967X ISBN 13: 9783845439679
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Molecular and Monte Carlo Simulations: of Thermal Transport in AFM based Data Storage
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 3843391475 ISBN 13: 9783843391474
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Identification of Structural Damage Location Using Impedance Sensors: Validation of Wireless Sensor System
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 3846593621 ISBN 13: 9783846593622
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 400 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Smart Sensor for Monitoring Excavation of Mass Rapid Transit Station
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 384543967X ISBN 13: 9783845439679
EUR 48,50
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Annamdas Venu Gopal MadhavVenu Gopal Madhav Annamdas obtained his Phd (2007) from Nanyang Technological University (NTU),Singapore. He obtained his Post Doctoral Experience from NTU, and University of Pittsburgh in USA. He is now wor.
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Identification of Structural Damage Location Using Impedance Sensors
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 3846593621 ISBN 13: 9783846593622
EUR 55,21
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Hui LiuMs Liu Hui is presently a PhD scholar in Purdue University, USA. Yang Yaowen and Venu Gopal Madhav Annamdas are her supervisors for her M.Engg (research)in Nanyang Technological University (NTU)Singapore. Dr Y Yang is Assoc Pr.
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Molecular and Monte Carlo Simulations
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
ISBN 10: 3843391475 ISBN 13: 9783843391474
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Liu XiangjunX.J. Liu, PhD, Nanyang Technological University (NTU) and Data Storage Institute (DSI), A-STAR, Singapore Postdoctoral fellow at National Institute for Nanotechnology and University of Alberta, Canada Y.W Yang, PhD, .
