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Theory and Practice of Field Emission Scanning Electron Microscopy(Chinese Edition)
Verlag: Posts and Telecommunications Press, 2024
ISBN 10: 7115631956 ISBN 13: 9787115631954
Sprache: Englisch
EUR 93,46
Währung umrechnenEUR 12,84 für den Versand von China nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbpaperback. Zustand: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-04 Pages: 212 Publisher: People's Posts and Telecommunications Press The emergence of field emission scanning electron microscopes marks the entry of scanning electron microscopes into a new era. Scanning electron microscope technology has made great progress. The application of new technologies such as new electrons. immersion objectives. through-mirror secondary electron detectors. simulated backscatter. e×b and electron beam deceleration h.
