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9780306455964 - Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 (15 Ergebnisse)
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Science+Business Media, US, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. 1997 ed. This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command. As with the 1993 symposium, the 1994 symposium provided a forum where scientists with a common interest in AFM, STM, and other probe microscopies could interact with one another, exchange ideas and explore the possibilities for future collaborations and working relationships. In addition to the scheduled talks and poster sessions, there was an equipment exhibit featuring the newest state-of-the-art AFM/STM microscopes, other probe microscopes, imaging hardware and software, as well as the latest microscope-related and sample preparation accessories. These were all very favorably received by the meeting's attendees. Following opening remarks by Natick's Commander, Colonel Morris E. Price, Jr., and the Technical Director, Dr. Robert W. Lewis, the symposium began with the Keynote Address given by Dr. Michael F. Crommie from Boston University. The agenda was divided into four major sessions. The papers (and posters) presented at the symposium represented a broad spectrum of topics in atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, and other probe microscopies.
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Zustand: New. pp. 268.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Boston Incorporated, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 Editor(s): Cohen, S.H.; Lightbody, Marcia L. Num Pages: 250 pages, biography. BIC Classification: PDND; TBC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 16. Weight in Grams: 1610. . 1997. 1997th Edition. hardcover. . . . .
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, i.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Boston Incorporated, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Zustand: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 Editor(s): Cohen, S.H.; Lightbody, Marcia L. Num Pages: 250 pages, biography. BIC Classification: PDND; TBC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 16. Weight in Grams: 1610. . 1997. 1997th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Science+Business Media, US, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command. As with the 1993 symposium, the 1994 symposium provided a forum where scientists with a common interest in AFM, STM, and other probe microscopies could interact with one another, exchange ideas and explore the possibilities for future collaborations and working relationships. In addition to the scheduled talks and poster sessions, there was an equipment exhibit featuring the newest state-of-the-art AFM/STM microscopes, other probe microscopes, imaging hardware and software, as well as the latest microscope-related and sample preparation accessories. These were all very favorably received by the meeting's attendees. Following opening remarks by Natick's Commander, Colonel Morris E. Price, Jr., and the Technical Director, Dr. Robert W. Lewis, the symposium began with the Keynote Address given by Dr. Michael F. Crommie from Boston University. The agenda was divided into four major sessions. The papers (and posters) presented at the symposium represented a broad spectrum of topics in atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, and other probe microscopies.
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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