9780306458965 - beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis (methods of surface characterization, 5, band 5) (15 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes KönigreichAnybook.com
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Ausreichend
EUR 59,83
EUR 15,92 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Fair. Volume 5. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:97803064589…65.
- Hardcover
Anbieter: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, USACONTINENTAL MEDIA & BEYOND
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Befriedigend
EUR 74,90
EUR 6,13 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Used: Good. 1998 hardcover, no dj as issued, xlibrary copy withdrawn, stamp on edge of pages/in book, clean text, clean crisp pages except for stamp, has bookplate, 430 pages::: J-10.
- Hardcover
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USARomtrade Corp.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 126,61
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
- Hardcover
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USABasi6 International
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 127,63
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
- Hardcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht
EUR 165,37
EUR 3,50 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Used. pp. 456.
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht
EUR 170,34
EUR 7,61 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Used. pp. 456 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 166,20
EUR 14,02 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Czanderna, Alvin Warren (EDT); Madey, Theodore E. (EDT); Powell, C. J. (EDT)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 166,18
EUR 17,56 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Czanderna, Alvin Warren (EDT); Madey, Theodore E. (EDT); Powell, C. J. (EDT)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 183,91
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 15 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht
EUR 172,43
EUR 9,95 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: Used. pp. 456.
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Czanderna, Alvin Warren (EDT); Madey, Theodore E. (EDT); Powell, C. J. (EDT)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 204,96
EUR 17,56 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 195,33
EUR 29,27 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Like New. Like New. book.
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Czanderna, Alvin Warren (EDT); Madey, Theodore E. (EDT); Powell, C. J. (EDT)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 229,76
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 15 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 180,97
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Gebunden. Zustand: New. Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. B.
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 223,29
EUR 64,07 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Neuware - Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is… thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
