Hardcover. XVII, 372 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16139 9780387945415 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
Anbieter: Librairie Parrêsia, Figeac, Frankreich
Hardcover Dec 06, 1995. Zustand: Used: Good. Quantitative X-Ray Diffractometry | Zevin - Kimmel | Springer Verlag New-York Berlin, 1995, in-8° cartonnage éditeur de 372 pages. Couverture propre. Dos solide. Intérieur frais sans soulignage ou annotation. Exemplaire de bibliothèque : petit code barre en pied de 1re de couv., cotation au dos, rares et discrets petits tampons à l'intérieur de l'ouvrage. Très bon état général pour cet ouvrage. [T12].
Anbieter: online-buch-de, Dozwil, Schweiz
Dec 06, 1995. Zustand: gebraucht; sehr gut. Hardcover, 1995, Bibliothekstempel am Vorsatzblatt-Innenseite, ansonsten ungebraucht.