ISBN: 9780470547601 - defect analysis in electron microscopy (1 Ergebnisse)

von M. H. Loretto, R. E. Smallman und Michael Henry Loretto
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  • Sprache: Englisch

    Verlag: Chapman and Hall, 1975

    047054760X / 9780470547601

    • Hardcover

    Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USASolr Books

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