9780521363792 - atom-probe field ion microscopy: field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution von tsong, tien t. (2 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: Daedalus Books, Portland, OR, USADaedalus Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenVerbandsmitglied: CBA
Zustand: Gebraucht - Gut
EUR 52,32
EUR 5,65 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Very Good+. Inscribed by previous owner on front paste-down. Pages otherwise unmarked. ; B&W Illustrations; 8vo 8" - 9" tall; 397 pages.
Weitere BilderVerlag: Cambridge University Press, Cambridge, New York, ., 1990
- Hardcover
- Erstausgabe
Anbieter: Kuenzig Books ( ABAA / ILAB ), Topsfield, MA, USAKuenzig Books ( ABAA / ILAB )
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Gebraucht - Befriedigend
EUR 49,23
EUR 5,21 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Boards. Zustand: Good. First Edition. First Edition. x, 387,[1] pages. 8vo Ex-library Rowland Institute (properly deaccessioned). With the usual library markings. Bumped corners. A sound working copy. Boards.
