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9780792378617 - Electrothermal Analysis of VLSI Systems von Chin-Chi Teng; Ching-Han Tsai; Yi-Kan Cheng (23 Ergebnisse)
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In den WarenkorbZustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present three important applications of VLSI electro.
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Buch. Zustand: Neu. Electrothermal Analysis of VLSI Systems | Yi-Kan Cheng (u. a.) | Buch | xxiii | Englisch | 2000 | Springer US | EAN 9780792378617 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Verlag: Springer US, Springer New York Jun 2000, 2000
ISBN 10: 079237861X ISBN 13: 9780792378617
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems.Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis.Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 240 pp. Englisch.
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