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9780890062845 - Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) von Hakim, Edward B. (14 Ergebnisse)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
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Microelectronic Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Artech House Publishers, US, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Anbieter: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, USA
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
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(Ipf)Microelectronic Reliability
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(Ipf)Microelectronic Reliability
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