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9780890062845 - Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) von Hakim, Edward B. (15 Ergebnisse)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. KlappentextText/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures.
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
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(Ipf)Microelectronic Reliability
Sprache: Englisch
Verlag: Artech House Publishers Jan 1989, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought.
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(Ipf)Microelectronic Reliability
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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(Ipf)Microelectronic Reliability
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