ISBN: 9780890064504 - introduction to semiconductor device yield modeling (artech house materials science library) (18 Ergebnisse)
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Gebunden. Zustand: New. InhaltsverzeichnisYield. Fault Probability. Effect of Defect Sizes on the Fault Probability. Counting Techniques. Yield Equations. Defect Density and Scaling Rules. Yield Prediction. Yield With Redundancy. A Yield Comparison. Productivit.
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This text, the first of its kind, delivers a systematically organized introduction to the theory and practice of yield prediction. The book addresses the economic need for accurate yield prediction, and clarifies the important role it plays in the semiconductor industry.…
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