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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 212 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York, Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise. 232 pp. Englisch.
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an introduction to VLSI testing and diagnosis, with a focus on delay testing and small-delay defects Presents the most effective techniques for screening small-delay defects, such as long path-based, slack-based, critical fault-based, and.
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. Test and Diagnosis for Small-Delay Defects | Mohammad Tehranipoor (u. a.) | Buch | xviii | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441982964 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Sep 2011, 2011
ISBN 10: 1441982965 ISBN 13: 9781441982964
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 232 pp. Englisch.