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9781489986306 - Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing) von Maricau, Elie; Gielen, Georges (15 Ergebnisse)
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS | Elie Maricau (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2015 | Springer | EAN 9781489986306 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Analog Ic Reliability in Nanometer Cmos
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Maricau:Analog IC Reliability in Nanome (eng)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingSprache: Englisch
Verlag: Springer New York Jun 2015, 2015
ISBN 10: 1489986308 ISBN 13: 9781489986306
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. 216 pp. Englisch.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Enables readers to understand long-term reliability of an integrated circuit Reviews CMOS unreliability effects, with focus on those that will emerge in future CMOS nodes Provides overview of models for key aging effects, as well as compact.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS (Analog Circuits and Signal Processing)
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 198.
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Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Buch 57 von 124: Analog Circuits and Signal ProcessingSprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Jun 2015, 2015
ISBN 10: 1489986308 ISBN 13: 9781489986306
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed.The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 216 pp. Englisch.
