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9783030516093 - Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques von Ghavami, Behnam; Raji, Mohsen (15 Ergebnisse)
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing Okt 2020, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today¿s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 128 pp. Englisch.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing Okt 2020, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today's reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques. 128 pp. Englisch.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
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Verlag: Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error aware CAD algorithms.
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Buch. Zustand: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Buch | xiii | Englisch | 2020 | Springer | EAN 9783030516093 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
