Isbn: 9783540372363 - structural, syntactic, and statistical pattern recognition: joint iapr international workshops, sspr 2006 and spr 2006, hong kong, china, august ... notes in computer science, 4109, band 4109) (12 Ergebnisse)
Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition | Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings | Dit-Yan Yeung (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2006 | Springer | EAN 9783540372363 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Yeung, Dit-Yan|Kwok, James T.|Fred, Ana|Roli, Fabio|Ridder, Dick de
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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