Isbn: 9786204924021 - untersuchung von routing-methoden in einem vlsi-szenario mit geringem stromverbrauch: ein bewährter beitrag für integrierte schaltungen (5 Ergebnisse)

ISBN: 
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (5)

  • Neu (5)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Sprache: Deutsch

    Verlag: Verlag Unser Wissen, 2022

    6204924028 / 9786204924021

    • Softcover

    Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 79,90

    EUR 48,99 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New.

  • Sprache: Deutsch

    Verlag: Verlag Unser Wissen, 2022

    6204924028 / 9786204924021

    • Softcover

    Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes KönigreichMispah books

    Verkäufer/-in mit 4 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 193,46

    EUR 29,17 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    paperback. Zustand: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Sprache: Deutsch

    Verlag: Verlag Unser Wissen Jul 2022, 2022

    6204924028 / 9786204924021

    • Softcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 79,90

    EUR 23,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Die ständig steigende Nachfrage nach neuen Anwendungen und kompakten Geräten führte zur Entwicklung neuer Technologien auf der Integrationsebene. Die Very Large Scale Integration (VLSI) bietet den Vorteil, dass Anwendungen mit hoher Dichte in eine kompakte Plattform integriert werden können, wodurch das Ziel erreicht wird, High-End-Anwendungen auf einer einzigen Plattform zu realisieren. Mit dem Erreichen einer hohen Integrationsdichte steigen auch die Anforderungen an Leistung, Geschwindigkeit und Durchsatz. Mit zunehmender Transistordichte steigt auch die Leistungsaufnahme. Dies ist ein Engpass beim VLSI-Design für kritische Anwendungen. Daher ist die Notwendigkeit eines geringeren Stromverbrauchs ein wichtiges Ziel in der VLSI-Designumgebung. Die Optimierung des Stromverbrauchs wird mit verschiedenen Mitteln vorangetrieben, wobei die Forscher verschiedene Ansätze auf Kompositions- oder Integrationsebene verfolgen, um die Verlustleistung zu verringern. Die Nutzung der Verarbeitungsleistung wird als nützlicher Verbrauch betrachtet, jedoch werden auch Leistungsverluste aufgrund von IR-Verlusten und elektromagnetischer Interferenz (EMI) untersucht. 192 pp. Deutsch.…

  • Sprache: Deutsch

    Verlag: Verlag Unser Wissen Jul 2022, 2022

    6204924028 / 9786204924021

    • Softcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 79,90

    EUR 60,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Die ständig steigende Nachfrage nach neuen Anwendungen und kompakten Geräten führte zur Entwicklung neuer Technologien auf der Integrationsebene. Die Very Large Scale Integration (VLSI) bietet den Vorteil, dass Anwendungen mit hoher Dichte in eine kompakte Plattform integriert werden können, wodurch das Ziel erreicht wird, High-End-Anwendungen auf einer einzigen Plattform zu realisieren. Mit dem Erreichen einer hohen Integrationsdichte steigen auch die Anforderungen an Leistung, Geschwindigkeit und Durchsatz. Mit zunehmender Transistordichte steigt auch die Leistungsaufnahme. Dies ist ein Engpass beim VLSI-Design für kritische Anwendungen. Daher ist die Notwendigkeit eines geringeren Stromverbrauchs ein wichtiges Ziel in der VLSI-Designumgebung. Die Optimierung des Stromverbrauchs wird mit verschiedenen Mitteln vorangetrieben, wobei die Forscher verschiedene Ansätze auf Kompositions- oder Integrationsebene verfolgen, um die Verlustleistung zu verringern. Die Nutzung der Verarbeitungsleistung wird als nützlicher Verbrauch betrachtet, jedoch werden auch Leistungsverluste aufgrund von IR-Verlusten und elektromagnetischer Interferenz (EMI) untersucht.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 192 pp. Deutsch. …

  • Sprache: Deutsch

    Verlag: Verlag Unser Wissen, 2022

    6204924028 / 9786204924021

    • Softcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 79,90

    EUR 61,52 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 1 verfügbar

    Taschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Die ständig steigende Nachfrage nach neuen Anwendungen und kompakten Geräten führte zur Entwicklung neuer Technologien auf der Integrationsebene. Die Very Large Scale Integration (VLSI) bietet den Vorteil, dass Anwendungen mit hoher Dichte in eine kompakte Plattform integriert werden können, wodurch das Ziel erreicht wird, High-End-Anwendungen auf einer einzigen Plattform zu realisieren. Mit dem Erreichen einer hohen Integrationsdichte steigen auch die Anforderungen an Leistung, Geschwindigkeit und Durchsatz. Mit zunehmender Transistordichte steigt auch die Leistungsaufnahme. Dies ist ein Engpass beim VLSI-Design für kritische Anwendungen. Daher ist die Notwendigkeit eines geringeren Stromverbrauchs ein wichtiges Ziel in der VLSI-Designumgebung. Die Optimierung des Stromverbrauchs wird mit verschiedenen Mitteln vorangetrieben, wobei die Forscher verschiedene Ansätze auf Kompositions- oder Integrationsebene verfolgen, um die Verlustleistung zu verringern. Die Nutzung der Verarbeitungsleistung wird als nützlicher Verbrauch betrachtet, jedoch werden auch Leistungsverluste aufgrund von IR-Verlusten und elektromagnetischer Interferenz (EMI) untersucht. …