Isbn: 9788770043564 - on-wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond (5 Ergebnisse)
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Zustand: New. The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measu.
