Isbn: 9788770221122 - on-wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond (river publishers in electronic materials and devices) (13 Ergebnisse)
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 121,19
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 135,94
EUR 2,32 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 130,55
EUR 7,56 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 122,53
EUR 17,44 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
- Hardcover
Anbieter: Books Puddle, Woodside, NY, USABooks Puddle
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 145,56
EUR 3,50 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes KönigreichPBShop.store UK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 141,79
EUR 5,84 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
HRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Hardcover
Anbieter: California Books, Miami, FL, USACalifornia Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 150,10
Versand gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 137,47
EUR 17,44 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: Biblios, frankfurt am main, HESSE, DeutschlandBiblios
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 147,61
EUR 9,95 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 3 verfügbar
Zustand: New.
- Hardcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 153,58
EUR 13,13 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In English.
- Hardcover
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 184,82
EUR 14,53 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Hardcover. Zustand: Brand New. 250 pages. 9.50x6.25x0.75 inches. In Stock.
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 110,28
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Andrej RumiantsevThe increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz.…
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 211,06
EUR 35,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The increasing demand for more content, services, and security drives the development of high-speed wireless technologies, optical communication, automotive radar, imaging and sensing systems and many other mm-wave and THz applications. S-parameter measurement at mm-wave and sub-mm wave frequencies plays a crucial role in the modern IC design debug. Most importantly, however, is the step of device characterization for development and optimization of device model parameters for new technologies. Accurate characterization of the intrinsic device in its entire operation frequency range becomes extremely important and this task is very challenging.This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.Technical topics discussed in the book include:Specifics of S-parameter measurements of planar structuresComplete mathematical solution for lumped-standard based calibration methods, including the transfer Thru-Match-Reflect (TMR) algorithmsDesign guideline and examples for the on-wafer calibration standards realized in both advanced SiGe BiCMOS and RF CMOS processesMethods for verification of electrical characteristics of calibration standards and accuracy of the in-situ calibration resultsComparison of the new technique vs. conventional approaches: the probe-tip calibration and the pad parasitic de-embedding for various device types, geometries and model parametersNew aspects of the on-wafer RF measurements at mmWave frequency range and calibration assurance.…
