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Advanced Computing in Electron Microscopy (2nd Edn)
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10: 1489995099 ISBN 13: 9781489995094
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Preface to Second Edition Several new topics have been added, some small errors have been corrected and some new references have been added in this edition. New topics include aberration corrected instruments, scanning confocal mode of operations, Bloch wave eigenvalue methods and parallel computing techniques. The rst edition - cluded a CD with computer programs, which is not included in this edition. - stead the associated programs will be available on an associated web site (currently people.ccmr.cornell.edu/ kirkland,but may move as time goes on). I wish to thank Mick Thomas for preparing the specimen used to record the image in Fig.5.26 and to thank Stephen P. Meisburger for suggesting an interesting biological specimen to use in Fig.7.24. Again, I apologize in advance for leaving out some undoubtedlyoutstanding r- erences. I also apologize for the as yet undiscovered errors that remain in the text. Earl J. Kirkland, December 2009 Preface to First Edition Image simulation has become a common tool in HREM (High Resolution El- tron Microscopy) in recent years. However, the literature on the subject is scattered among many different journals and conference proceedings that have occurred in the last two or three decades. It is dif cult for beginners to get started in this eld.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Switzerland AG, CH, 2020
ISBN 10: 3030332594 ISBN 13: 9783030332594
Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardback. Zustand: New. Third Edition 2020.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2021
ISBN 10: 3030332624 ISBN 13: 9783030332624
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2020
ISBN 10: 3030332594 ISBN 13: 9783030332594
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Mär 2021, 2021
ISBN 10: 3030332624 ISBN 13: 9783030332624
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 368 pp. Englisch.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2020, 2020
ISBN 10: 3030332594 ISBN 13: 9783030332594
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware -This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 368 pp. Englisch.
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Nature Switzerland AG, CH, 2020
ISBN 10: 3030332594 ISBN 13: 9783030332594
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Advanced Computing in Electron Microscopy
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Advanced Computing in Electron Microscopy (eng)
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Advanced Computing in Electron Microscopy
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Preface to Second Edition Several new topics have been added, some small errors have been corrected and some new references have been added in this edition. New topics include aberration corrected instruments, scanning confocal mode of operations, Bloch wave eigenvalue methods and parallel computing techniques. The rst edition - cluded a CD with computer programs, which is not included in this edition. - stead the associated programs will be available on an associated web site (currently people.ccmr.cornell.edu/ kirkland,but may move as time goes on). I wish to thank Mick Thomas for preparing the specimen used to record the image in Fig.5.26 and to thank Stephen P. Meisburger for suggesting an interesting biological specimen to use in Fig.7.24. Again, I apologize in advance for leaving out some undoubtedlyoutstanding r- erences. I also apologize for the as yet undiscovered errors that remain in the text. Earl J. Kirkland, December 2009 Preface to First Edition Image simulation has become a common tool in HREM (High Resolution El- tron Microscopy) in recent years. However, the literature on the subject is scattered among many different journals and conference proceedings that have occurred in the last two or three decades. It is dif cult for beginners to get started in this eld. 300 pp. Englisch.
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Advanced Computing in Electron Microscopy (eng)
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Advanced Computing in Electron Microscopy (eng)
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book features numerical computation of electron microscopy images as well as multislice methodsHigh resolution CTEM and STEM image interpretation are included in the textThis newly updated second edition will bring the reader up to dat.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Computing in Electron Microscopy | Earl J. Kirkland | Taschenbuch | x | Englisch | 2014 | Springer US | EAN 9781489995094 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
