Advanced transmission electron microscopy (75 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. A Practical Guide to Transmission Electron Microscopy, Volume II | Advanced Microscopy | Zhiping Luo | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2015 | Momentum Press | EAN 9781606509173 | Verantwortliche Person für die EU: Mare Nostrum Group B.V., Doelen 72, 4831 GR BREDA, NIEDERLANDE, gpsr[at]mare-nostrum[dot]co[dot]uk | Anbieter: preigu. …
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Zustand: New. pp. 284 Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Transmission Electron Microscopy | Imaging and Diffraction in Nanoscience | Jian Min Zuo (u. a.) | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9781493982493 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
Advanced Transmission Electron Microscopy: Applications for Nanomaterials
Deepak, Francis Leonard (Edited by)/ Mayoral, Alvaro (Edited by)/ Arenal, Raul (Edited by)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Transmission Electron Microscopy | Applications to Nanomaterials | Francis Leonard Deepak (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319382890 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduatelevel text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments.…
