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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 27,09
Währung umrechnenEUR 5,52 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 0.85.
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EUR 26,12
Währung umrechnenEUR 98,56 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 134,87
Währung umrechnenKostenlos für den Versand von Australien nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 115,18
Währung umrechnenEUR 33,96 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,25
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 165,03
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 165,30
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Analog and Mixed-signal Boundary-scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 155,95
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,16
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 173,55
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 165,29
Währung umrechnenEUR 17,29 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 179,89
Währung umrechnenEUR 8,65 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Analog and Mixed-signal Boundary-scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 186,15
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,62
Währung umrechnenEUR 64,84 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,97
Währung umrechnenEUR 64,84 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 222,01
Währung umrechnenEUR 17,29 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 232,44
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 176 pages. 9.21x6.14x0.40 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (16))
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 212,52
Währung umrechnenEUR 28,82 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. Like New. book.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 234,44
Währung umrechnenEUR 11,53 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 241,87
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 246,29
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
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