Applications random process excursion von brainina irina (13 Ergebnisse)

Autor
Titel
Mit der Detailsuche verfeinern

Optimieren Sie Ihre Suche

  • Bücher (13)

bis

Benutzerdefinierte Preisspanne (EUR)

bis

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 137,83

    EUR 2,31 Versand 
    Versand innerhalb von USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Gebraucht - Wie neu

    EUR 164,75

    EUR 2,31 Versand 
    Versand innerhalb von USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: As New. Unread book in perfect condition.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 164,70

    EUR 13,16 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. In English.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 164,69

    EUR 17,48 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Gebraucht - Wie neu

    EUR 165,58

    EUR 17,48 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: As New. Unread book in perfect condition.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Vereinigtes KönigreichRarewaves.com USA

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 189,07

     Versand gratis 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Hardback. Zustand: New. This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: moluna, Greven, Deutschlandmoluna

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 171,24

    EUR 48,99 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: New. Introduces English-speaking students and researchers in to the results obtained in the former Soviet/ Russian academic institutions within last few decades. Supplies a range of applications suitable for all levels from undergraduate to pro.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc, US, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover

    Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes KönigreichRarewaves.com UK

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 184,22

    EUR 75,76 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Hardback. Zustand: New. This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalienBrook Bookstore On Demand

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 106,96

    EUR 6,80 Versand 
    Versand von Italien nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Zustand: new. Questo è un articolo print on demand.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science Ltd, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes KönigreichRevaluation Books

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 121,30

    EUR 14,57 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Hardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 252 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Inc Jul 2013, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 118,00

    EUR 23,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics. 256 pp. Englisch.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Science Publishing Co Inc, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes KönigreichTHE SAINT BOOKSTORE

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 177,15

    EUR 18,96 Versand 
    Versand von Vereinigtes Königreich nach USA

    Anzahl: Mehr als 20 verfügbar

    Hardback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.

  • Sprache: Englisch

    Verlag: Elsevier Inc, 2013

    0124095011 / 9780124095014

    • Hardcover
    • Print-on-Demand

    Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH

    Verkäufer/-in mit 5 Sternen
    Verkäufer/-in kontaktieren

    Zustand: Neu

    EUR 327,70

    EUR 35,00 Versand 
    Versand von Deutschland nach USA

    Anzahl: 2 verfügbar

    Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics.