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built in fault tolerant computing paradigm von xiaowei yan (18 Ergebnisse)
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 53,45
EUR 13,63 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 192,28
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 192,27
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 209,10
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 221,05
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 220,41
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Verlag: Springer Nature Singapore, 2023
ISBN 10: 9811985502 ISBN 13: 9789811985508
Sprache: Englisch
Zustand: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 324 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: New. 2023rd edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 304,99
EUR 14,22 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 322 pages. 9.25x6.10x0.75 inches. In Stock.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 57,06
Kostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 53,24
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In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Built-in Fault-tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-scale Chip Design
Verlag: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811985502 ISBN 13: 9789811985508
Sprache: Englisch
EUR 180,07
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Verlag: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2024
ISBN 10: 9811985537 ISBN 13: 9789811985539
Sprache: Englisch
EUR 180,07
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault.
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 294,31
EUR 7,39 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 297,19
EUR 7,39 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand.
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND.
