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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Zustand: New. pp. 194.
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . .
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Zustand: New. pp. viii + 179.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, USA
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Paperback. Zustand: new. Paperback. To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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CMOS Gate-Stack Scaling â" Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 194.
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes Königreich
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2012
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Paperback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Anbieter: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australien
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2016
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. viii + 179.
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2016
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Buch. Zustand: Neu. CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications | Alexander A. Demkov (u. a.) | Buch | Englisch | 2016 | Cambridge University Press | EAN 9781605111285 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
