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Defect analysis in electron microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley : distributed by Halstead Press, 1975
ISBN 10: 0412137704 ISBN 13: 9780412137709
Anbieter: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Defect analysis in electron microscopy
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: acceptable. This book is in Acceptable condition. All pages are intact, but may have lots of notes, water damage or other issues and be ex library.
