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EUR 7,01
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Verlag: New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Sprache: Englisch
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 28,24
Währung umrechnenKostenlos für den Versand von Australien nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship toPOboxaddress.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 65,82
Währung umrechnenEUR 6,80 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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EUR 117,40
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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EUR 169,75
Währung umrechnenEUR 3,40 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,61
Währung umrechnenEUR 13,84 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 177,56
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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EUR 191,65
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In den WarenkorbZustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 202,09
Währung umrechnenEUR 3,40 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 202,49
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In den WarenkorbZustand: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 227,55
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 222,53
Währung umrechnenEUR 28,88 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Like New. Like New. book.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 297,71
Währung umrechnenEUR 28,88 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 300,29
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 309,39
Währung umrechnenEUR 28,88 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
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EUR 180,07
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 302,33
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In den WarenkorbZustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 352.
