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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Verlag: Kluwer Academic Pub, Boston, 1998
ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Sprache: Englisch
Anbieter: Feldman's Books, Menlo Park, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Fine. First Edition. A very clean, unmarked copy.
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hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Hardcover. Zustand: Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1998. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 1998. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Delay Fault Testing For Vlsi Circuits
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Zustand: New. pp. 212.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. pp. 212.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
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Zustand: New. pp. 210.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Delay Fault Testing for VLSI Circuits | Angela Krstic (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461375616 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (14))
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 210.
