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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Premier Reference Source)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Internationale AusgabeDESIGN & TEST TECHNOLOGY FOR DEPENDABLE SYSTEMS ON CHIP
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Advances in Computer and Electrical Engineering)
Anbieter: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, USA
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip (Advances in Computer and Electrical Engineering)
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). Th.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Buch. Zustand: Neu. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip | Raimund Ubar (u. a.) | Buch | Gebunden | Englisch | 2011 | Information Science Reference | EAN 9781609602123 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Zustand: New. Print on Demand pp. 580.
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Sprache: Englisch
Verlag: Information Science Reference, 2011
ISBN 10: 1609602129 ISBN 13: 9781609602123
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined 'classical' design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.
