Field ion microscopy (62 Ergebnisse)
Verlag: J Applied Physics, 1971
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In den WarenkorbPamphlet. Zustand: Very Good. Vol 42, No 9, pp. 3487-3493, Photos, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
Verlag: J Applied Physics, 1965
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In den WarenkorbPamphlet. Zustand: Very Good. Vol 36, No 8, pp. 2496-2503, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, last page in facsimile, else VG.
Verlag: J Applied Physics, 1968
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In den WarenkorbPamphlet. Zustand: Very Good. Vol 39, No 3, pp. 1462-1469, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, last page in facsimile, else VG.
Verlag: J Applied Physics, 1967
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In den WarenkorbPamphlet. Zustand: Very Good. Vol 38, No 8, pp. 3159-3167, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
Verlag: J Applied Physics, 1966
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In den WarenkorbPamphlet. Zustand: Very Good. Vol 37, No 6, pp. 2380-2390, Illus, 4to, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet else VG.
Sprache: Englisch
Verlag: Plenum Press, 1968
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Verlag: Plenum Press
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York, Incorporated, New York, NY, U.S.A., 1982
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Hard Cover. First Edition. Volume 6 in the series Crystals - Growth, Properties, and Applications. Hard covers. Mild ex institutional library. Clean and tight, a very good copy. pp 117. Size: 17x25cm.
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Verlag: Plenum, 1968
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Zustand: New. The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique. Num Pages: 400 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PDND. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 15…7 x 22. Weight in Grams: 556. . 2008. paperback. . . . .
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Paperback. Zustand: Brand New. 258 pages. 9.02x5.99x0.59 inches. In Stock.
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Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, New York, ., 1990
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Boards. Zustand: Good. First Edition. First Edition. x, 387,[1] pages. 8vo Ex-library Rowland Institute (properly deaccessioned). With the usual library markings. Bumped corners. A sound working copy. Boards.
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Verlag: Clarendon Press, Oxford, 1996
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Boards. Zustand: Good. First Edition. First Edition. ix,[1],509,[1] pages. 8vo Publisher's blue boards. Ex-library Rowland Institute (properly deaccessioned). With the usual library markings. Bumped corners. A sound working copy. Boards. Monographs on the Physics and Chemistry of Materials, #52.
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Verlag: North-Holland, Amsterdam, 1970
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In den WarenkorbHard Cover. Zustand: Very Good. No Jacket. First Edition. 257pp. 9 inches. No dw. Burgundy covers, sealed in plastic film, black titles front and spine, lib no on spine. Internally, ex-university lib bookplate, etc, else contents about as new. Illustrated with b/w photographs/ micrographs. 650g (Microscopy, Chemistry, Physics, C…rystalline Solids, Metallurgy, Alloys) Size: 8vo - over 7¾" - 9¾" tall.
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Zustand: New. The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique. Num Pages: 400 pages, black & white illustrations. BIC Classification: PDND. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 15…7 x 22. Weight in Grams: 556. . 2008. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Zustand: New. pp. 400.
Sprache: Englisch
Verlag: Plenum Press New York-London, 1968
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In den WarenkorbHardcover/ Pappband. Zustand: Gut. 244 S. Natural Science Spectrometry Physics Guter Zustand/ Good With figures. Ex-Library. Spine faded. gebraucht; gut Guter Zustand/ Good With figures. Ex-Library. Spine faded. ha1065547 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 510.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
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Zustand: New. In.
Verlag: Springer Verlag, 1982
- Hardcover
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Good. exlibrary hardcover book no dust jacket, usual library marks, has some light reader wear.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microsco…py has been successfully used to study most metals and many alloys, and recently good field ion images of some semiconductors and even ceramic materials such as high temperature superconductors have been obtained. Although other microscopies are capable of achieving the same resolution, there are some experiments unique to field ion microscopy - for example the study of the behaviour of single atoms and clusters on a solid surface. The elegant development of the field ion microscope with the atom probe has provided a powerful and useful technique for highly sensitive chemical analysis. This book presents the basic principles of atom-probe field ion microscopy and illustrates the various capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution. A useful comparison is given with two related techniques, electron microscopy and scanning tunnelling microscopy. The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.
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Paperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 134 pages. 9.50x6.70x0.40 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only i…nstrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal. Fifteen years after Milller!) invented the FIM he was also the first to combine the FIM with a time-of-flight (ToF) mass spectrometer - the so-called Atom-Probe FlM - to identify the chemical nature of single atoms imaged in the FIM2). Originally the motivation to develop the ToF atom probe was to use this method to obtain some more fundamental understanding of field ionization and field evaporation, the most basic physical processes in field-ion microscopy. Even after the successful combination of a FIM with a ToF atom probe had been accomplished, the technique was rarely applied to metallurgical investigations since for a fairly long period only refractory metals such as tungsten, molybdenum, iridium, etc. could be imaged in the FIM. How ever, these metals do not playa very important role in metallurgy. Only when Turner et 3 al. ) substituted the conventional phosphorescent screen of the field-ion microscope with micro-channel electron multiplier arrays, termed micro channel plates, did it become possible to image in the FIM the less refractory metals like Fe, Cu, Ni and even AI.
