Anbieter: Buchpark, Trebbin, Deutschland
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In den WarenkorbZustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 200 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Used. pp. 228.
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: Used. pp. 228 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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In den WarenkorbZustand: Used. pp. 228.
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 226.
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage of novel techniques to automate IC debugging, a subject rarely covered in other booksComprehensive scope and solutions: from RTL to post-silicon debuggingThe innovative techniques covered in this book are recent and have been featu.
Verlag: Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 224 pp. Englisch.
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2010, 2010
ISBN 10: 9048181127 ISBN 13: 9789048181124
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 224 pp. Englisch.
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Functional Design Errors in Digital Circuits Diagnosis covers a wide spectrum of innovative methods to automate the debugging process throughout the design flow: from Register-Transfer Level (RTL) all the way to the silicon die. In particular, this book describes: (1) techniques for bug trace minimization that simplify debugging; (2) an RTL error diagnosis method that identifies the root cause of errors directly; (3) a counterexample-guided error-repair framework to automatically fix errors in gate-level and RTL designs; (4) a symmetry-based rewiring technology for fixing electrical errors; (5) an incremental verification system for physical synthesis; and (6) an integrated framework for post-silicon debugging and layout repair. The solutions provided in this book can greatly reduce debugging effort, enhance design quality, and ultimately enable the design and manufacture of more reliable electronic devices. 200 pp. Englisch.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 226 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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