Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USA
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Verlag: Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland Feb 2025, 2025
ISBN 10: 3031800222 ISBN 13: 9783031800221
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability.
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 176 pages. 9.25x6.10x0.40 inches. In Stock.
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In den WarenkorbZustand: New. Second Edition 2025 NO-PA16APR2015-KAP.
Verlag: Springer International Publishing, 2018
ISBN 10: 3030088111 ISBN 13: 9783030088118
Sprache: Englisch
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Enables readers to understand and meet challenges of electromigration, including its effects on the reliability of electronic systemsAccessible to readers of varying backgrounds and experience levels, combining practical application with.
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Verlag: Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland Feb 2025, 2025
ISBN 10: 3031800222 ISBN 13: 9783031800221
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 184 pp. Englisch.
Verlag: Springer Nature Switzerland, Springer Nature Switzerland Feb 2025, 2025
ISBN 10: 3031800222 ISBN 13: 9783031800221
Sprache: Englisch
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration's negative impact on circuit reliability. 184 pp. Englisch.
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