Handbook measurement error models (34 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Handbook of Measurement Error Models
Yi, Grace Y. (EDT); Delaigle, Aurore (EDT); Gustafson, Paul (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Handbook of Measurement Error Models
Yi, Grace Y. (EDT); Delaigle, Aurore (EDT); Gustafson, Paul (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Handbook of Measurement Error Models
Yi, Grace Y. (EDT); Delaigle, Aurore (EDT); Gustafson, Paul (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
Serie: Buch 25 von 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Handbook of Measurement Error Models
Yi, Grace Y. (EDT); Delaigle, Aurore (EDT); Gustafson, Paul (EDT)
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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HANDBOOK OF MEASUREMENT ERROR MODELS (Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods)
Yi, Gracy Y. [Editor] Delaigle, Aurore [Editor] Gustafson, Paul [Editor]
Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, Boca Raton, Florida, 2021
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Hardcover. First Edition. Large Octavo, xiv, 577 pages. In Good condition. Grey and dark blue spine with white and dark blue lettering. Boards have mild shelving wear, mild finger-staining, scratches along front board joint, a small tear along rear board joint along tail, mild wear along rear board edges, mild wear along spine h…ead and tail, and boards are shaken. Textblock has mild wear along head and tail edges of pages 151-205, mild staining along rear end-page and pastedown, mild wear along front and rear pastedowns, moderate wear along head and tail edges, and mild staining along edges. Shelved in ND-C. 1379688. FP New Rockville Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2024
Serie: Buch 25 von 27 - Chapman & Hall/CRC Handbooks of Modern Statistical Methods
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Handbook of Measurement Error Models | Grace Y. Yi (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2024 | Chapman and Hall/CRC | EAN 9781032070087 | Verantwortliche Person für die EU: Taylor & Francis Verlag GmbH, Kaufingerstr. 24, 80331 München, gpsr[at]taylorandfrancis[dot]com | Anbie…ter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2021
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Handbook of Measurement Error Models
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Measurement error arises ubiquitously in applications and has been of long-standing concern in a variety of fields, including medical research, epidemiological studies, economics, environmental studies, and survey research. While seve…ral research monographs are available to summarize methods and strategies of handling different measurement error problems, research in this area continues to attract extensive attention. The Handbook of Measurement Error Models provides overviews of various topics on measurement error problems. It collects carefully edited chapters concerning issues of measurement error and evolving statistical methods, with a good balance of methodology and applications. It is prepared for readers who wish to start research and gain insights into challenges, methods, and applications related to error-prone data. It also serves as a reference text on statistical methods and applications pertinent to measurement error models, for researchers and data analysts alike. Features:Provides an account of past development and modern advancement concerning measurement error problemsHighlights the challenges induced by error-contaminated dataIntroduces off-the-shelf methods for mitigating deleterious impacts of measurement error Describes state-of-the-art strategies for conducting in-depth research 592 pp. Englisch.
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Grace Y. Yi is Professor of Statistics at the University of Western Ontario where she holds a Tier I Canada Research Chair in Data Science. She is a Fellow of the Institute of Mathematical Statistics (IMS), a Fellow of…the American Stati.
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