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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 53,85
Währung umrechnenEUR 5,71 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Mär 2024, 2024
ISBN 10: 3031196414 ISBN 13: 9783031196416
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 64,19
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware -This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 328 pp. Englisch.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer International Publishing Mär 2024, 2024
ISBN 10: 3031196414 ISBN 13: 9783031196416
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 64,19
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 74,39
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In den WarenkorbZustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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EUR 77,98
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 82,59
Währung umrechnenEUR 2,30 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-On-Chip
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,46
Währung umrechnenEUR 10,14 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
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EUR 83,96
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In den WarenkorbZustand: New. 2023rd edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Mär 2023, 2023
ISBN 10: 3031196384 ISBN 13: 9783031196386
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 90,94
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware -This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 328 pp. Englisch.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2023
ISBN 10: 3031196384 ISBN 13: 9783031196386
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 90,94
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In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 90,66
Währung umrechnenEUR 5,71 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 85,77
Währung umrechnenEUR 17,25 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 86,37
Währung umrechnenEUR 17,19 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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MACHINE LEARNING SUPPORT FOR FAULT DIAGNOSIS OF SYSTEM ON CHIP (HB 2023)
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,83
Währung umrechnenEUR 5,72 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Brand New! Fast Delivery US Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 7-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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MACHINE LEARNING SUPPORT FOR FAULT DIAGNOSIS OF SYSTEM ON CHIP (HB 2023)
Anbieter: URW Books Store, CASPER, WY, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 104,66
Währung umrechnenEUR 7,76 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Brand New. Brand New! Fast Delivery, Delivery With In 7-10 working Day Only , USA Edition Original Edition. Excellent Quality, Printing In English Language, Quick delivery by FEDEX & DHL. USPS & UPS Act. Our courier service is not available at PO BOX& APO BOX. Ship from India & United States.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 96,84
Währung umrechnenEUR 17,25 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 106,65
Währung umrechnenEUR 8,63 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 98,52
Währung umrechnenEUR 17,19 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-chip
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 142,31
Währung umrechnenEUR 11,46 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 327 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2024
ISBN 10: 3031196414 ISBN 13: 9783031196416
Sprache: Englisch
EUR 55,78
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after m.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 54,57
Währung umrechnenEUR 4,45 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: PBShop.store US, Wood Dale, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 59,62
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In den WarenkorbPAP. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2024
ISBN 10: 3031196414 ISBN 13: 9783031196416
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 64,19
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques. 316 pp. Englisch.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2023
ISBN 10: 3031196384 ISBN 13: 9783031196386
Sprache: Englisch
EUR 79,72
Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after m.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 88,41
Währung umrechnenEUR 2,30 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. PRINT ON DEMAND.
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2023, 2023
ISBN 10: 3031196384 ISBN 13: 9783031196386
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 87,00
Währung umrechnenEUR 10,14 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 4 verfügbar
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