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MODELS IN HARDWARE TESTING: LECTURE NOTES OF THE FORUM IN HONOR OF CHRISTIAN LANDRAULT
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing, 43)
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Models in Hardware Testing : Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
ISBN 10: 9400730934 ISBN 13: 9789400730939
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
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Models in Hardware Testing : Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing (43))
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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EUR 187,14
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Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Buch 22 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer Netherland | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
