Models hardware testing lecture (9 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 22 von 40. Buch 22 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 22 von 40. Buch 22 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Verlag: Springer, 2012
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 22 von 40. Buch 22 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Models in Hardware Testing | Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault | Hans-Joachim Wunderlich | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400730939 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]…springer[dot]com | Anbieter: preigu.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2012
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are i…ntroduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduc…ed, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.

Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2012
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
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Sprache: Englisch
Verlag: SPRINGER NATURE Dez 2009, 2009
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technol…ogy are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance. 257 pp. Englisch.