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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits | Amith Singhee (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400736870 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (eng)
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents flexible and general techniques for statistical analysis that can be applied to wide variety of circuit applicationsApplies theory from a wide variety of scientific fields (machine learning, computational finance, number theory, actuarial.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Mär 2012, 2012
ISBN 10: 9400736878 ISBN 13: 9789400736870
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 212 pp. Englisch.
