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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 39,05
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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EUR 39,94
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 53,20
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Verlag: Books on Demand|BiblioScholar, 2012
ISBN 10: 1288311508 ISBN 13: 9781288311507
Sprache: Englisch
EUR 61,74
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In den WarenkorbZustand: New. The high cost of failure for microelectronic devices operating in the space environment has led to a need for an accurate characterization of a device&aposs reliability prior to being deployed. In addition, significant cost savings can be achieved by deter.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Verlag: Creative Media Partners, LLC Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1288311508 ISBN 13: 9781288311507
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - The high cost of failure for microelectronic devices operating in the space environment has led to a need for an accurate characterization of a device's reliability prior to being deployed. In addition, significant cost savings can be achieved by determining this reliability prior to fabrication. High performance and flexibility requirements for many space applications have led to an integration of small feature-sized field programmable gate arrays (FPGA) into system designs. Specifically, feature sizes as small as 130, 90, and 65 nm. In this research, a characterization of the space environment is constructed specifically to address the typical conditions that can affect the performance and functionality of small feature-sized FPGAs, centered on temperature, non-ideal supply voltage, and radiation effects. A simulation technique is developed to determine the reliability of a microelectronic device prior to fabrication and deployment into the space environment. The technique is based on identifying the key elements of a circuit, simulating these key elements under each characterized condition individually, and then a comprehensive simulation of the elements under all enumerated combinations of the characterized conditions at the transistor-level using the HSPICE device simulation tool. Reliability calculations are performed based on simulation results and identified critical performance criteria. A demonstration of the technique is accomplished showing the poor reliability of non-radiation hardened small feature-sized commercial-off-the-shelf (COTS) FPGAs in four common satellite orbits around the earth. The results are then compared to an established, radiation hardened FPGA.
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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EUR 49,13
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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EUR 101,50
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Parametric Reliability of Space-Based Field Programmable Gate Arrays
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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