Pattern analysis machine intelligence (60 Ergebnisse)
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Hardcover. 261 p. Good condition. The reading pages are clean and unmarked. Slight signs of storage and use. Retired library copy with corresponding labelling. Book corners slightly bumped. Otherwise a good copy. 9780444704672 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 788.
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Paperback. Zustand: new. Paperback. This book constitutes the referred proceedings of the Second International Conference on Pattern Analysis and Machine Intelligence, ICPAMI 2025, held in Dalian, China, during August 2931, 2025.The 23 papers presented here were carefully reviewed and selected from 51 submissions. Their insightf…ul talks covered the applications, challenges, and future directions of Multimodal Foundation and Large Language Models, the frontiers and perspectives in 3D Spatial Video Reconstruction, and research on defenses and out-of-distribution detection in trustworthy deep learning. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the referred proceedings of theSecond International Conference onPattern Analysis and Machine Intelligence,ICPAMI 2025, held in Dalian, China, during August 29 31, 2025.The 23 papers presented here were carefully reviewed and se…lected from 51 submissions. Their insightful talks covered the applications, challenges, and future directions of Multimodal Foundation and Large Language Models, the frontiers and perspectives in 3D Spatial Video Reconstruction, and research on defenses and out-of-distribution detection in trustworthy deep learning.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Pattern Analysis and Machine Intelligence | Second International Conference, ICPAMI 2025, Dalian, China, October 31 - November 2, 2025, Revised Selected Papers | Jie Yang (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2026 | Springer | EAN 9789819595242 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag G…mbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the referred proceedings of theFirst International Conference onPattern Analysis and Machine Intelligence,ICPAMI 2024, held in Shanghai, China, from August 30 to September 01, 2024.The 28 papers presented herewere carefully revi…ewed and selected from 56 submissions. These papers have been organized under the following topical sections:Computer Vision and Pattern Recognition; Natural Language Processing (NLP) and Machine Learning; Intelligent System and Optimization Algorithm.
Sprache: Englisch
Verlag: Academic Press, 2020
Serie: Buch 2 von 3 - Hybrid Computational Intelligence for Pattern Analysis and Understanding
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Pattern Analysis and Machine Intelligence | First International Conference, ICPAMI 2024, Shanghai, China, August 30 - September 1, 2024, Proceedings | Jie Yang (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2025 | Springer | EAN 9789819633487 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tierga…rtenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Academic Press, 2020
Serie: Buch 2 von 3 - Hybrid Computational Intelligence for Pattern Analysis and Understanding
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Verlag: Academic Press, 2020
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C. U., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C. U., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C. U., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C. U., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C.u., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C.u., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C.u., Om Kumar (EDT)
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Dark Web Pattern Recognition and Crime Analysis Using Machine Intelligence
Rawat, Romil (EDT); Telang, Shrikant (EDT); William, P. (EDT); Kaur, Upinder (EDT); C.u., Om Kumar (EDT)
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Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
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