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Statistical Analysis of Measurement Errors
Verlag: John Wiley & Sons, New York, 1985
Anbieter: The Chatham Bookseller, Madison, NJ, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 32,24
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In den WarenkorbCloth. xxiii, 293p. A near fine copy with a previous owner's name and date in ink on ffep in a near fine, but slightly faded dj. An Exxon Monograph. Size: 8vo.
