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test resource partitioning system on a chip von chandra anshuman (24 Ergebnisse)
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Test Resource Partitioning For System-on-a-chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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EUR 103,81
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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EUR 114,37
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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EUR 111,09
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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EUR 114,35
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 130,23
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Test Resource Partitioning for System-On-A-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 126,31
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip | Anshuman Chandra (u. a.) | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461354000 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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EUR 118,64
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip (Frontiers in Electronic Testing, 20)
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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EUR 174,56
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer US, Springer New York Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements. 248 pp. Englisch.
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EUR 92,27
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfac.
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Buch 27 von 40: Frontiers in Electronic TestingVerlag: Springer US, Springer New York Nov 2012, 2012
ISBN 10: 1461354005 ISBN 13: 9781461354000
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip is about test resource partitioning and optimization techniques for plug-and-play system-on-a-chip (SOC) test automation. Plug-and-play refers to the paradigm in which core-to-core interfaces as well as core-to-SOC logic interfaces are standardized, such that cores can be easily plugged into 'virtual sockets' on the SOC design, and core tests can be plugged into the SOC during test without substantial effort on the part of the system integrator. The goal of the book is to position test resource partitioning in the context of SOC test automation, as well as to generate interest and motivate research on this important topic.SOC integrated circuits composed of embedded cores are now commonplace. Nevertheless, There remain several roadblocks to rapid and efficient system integration. Test development is seen as a major bottleneck in SOC design, and test challenges are a major contributor to the widening gap between design capability and manufacturing capacity. Testing SOCs is especially challenging in the absence of standardized test structures, test automation tools, and test protocols.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip responds to a pressing need for a structured methodology for SOC test automation. It presents new techniques for the partitioning and optimization of the three major SOC test resources: test hardware, testing time and test data volume.Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip paves the way for a powerful integrated framework to automate the test flow for a large number of cores in an SOC in a plug-and-play fashion. The framework presented allows the system integrator to reduce test cost and meet short time-to-market requirements.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 248 pp. Englisch.
