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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Anbieter: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in Good condition! Any other included accessories are also in Good condition showing use. Use can include some highlighting and writing, page and cover creases as well as other types visible wear.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Sprache: Englisch
Anbieter: Recycle Bookstore, San Jose, CA, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Very Good. This book has mild rubbing and surface scratching to both covers, light smudging to both covers most notable at the back cover, and faint smudging to the edges of the textblock, otherwise this book is in very good condition with crisp, unmarked pages, a tight binding, and a strong, glossy cover.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Boston, MA, U. S. A., 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Sprache: Englisch
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 17,20
EUR 10,83 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. First Edition. Printed boards, no jacket. Exterior a little worn, grubby; previous owner's name on FEP; contents otherwise clean, sound, bright. TPW. Used.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Sprache: Englisch
Anbieter: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 17,20
EUR 10,83 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. Name from previous owner on FEP. No dust jacket. Binding is very well preserved, though with light surface wear to covers. Pages are clean and crisp, and printing is tight, clean and bright throughout. MB. Used.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Boston, 1990
ISBN 10: 0792390563 ISBN 13: 9780792390565
Sprache: Englisch
Anbieter: K & L KICKIN' BOOKS, Corinth, TX, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Erstausgabe
Hardcover. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dj. First Edition. Owner's name is signed.
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Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Zustand: New. SUPER FAST SHIPPING.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,10
EUR 3,45 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 157,46
EUR 13,65 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 163,44
EUR 13,65 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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EUR 136,16
EUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New.
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EUR 136,16
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New.
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Zustand: New. pp. 248.
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Zustand: New. pp. 260.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Testing and Reliable Design of CMOS Circuits | Niraj K. Jha (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781461288183 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 88)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 224,22
EUR 28,49 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 223,45
EUR 7,41 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 248 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 229,34
EUR 7,41 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 260 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 248.
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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 260.
