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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain.
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
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XIV, 246 p. Softcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Neuromethods. Volume 115. Sprache: Englisch.
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Transmission Electron Microscopy: Methods of Application
Sprache: Englisch
Verlag: Charles C Thomas Pub Ltd 1983-05, 1983
ISBN 10: 0398047138 ISBN 13: 9780398047139
Anbieter: Joy Logistics, Waynesboro, PA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Good. Good. No dust jacket as issued. Ex-library. Ex-library (Boeing) with typical markings. Interior clean, binding sound. Moderate wear to covers.
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser: Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207641116 ISBN 13: 9786207641116
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain (Neuromethods, 115)
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
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Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex
Sprache: Englisch
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2024
ISBN 10: 6207641116 ISBN 13: 9786207641116
Taschenbuch. Zustand: Neu. Integrated light, electron transmission, scanning and confocal laser | Multiple microscopy methods applied to the cerebellar cortex | Orlando Castejon | Taschenbuch | Englisch | 2024 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786207641116 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu.
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![Beispielbild für Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. zum Verkauf von BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-de-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
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Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy : Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications
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Transmission Electron Microscopy Methods for Understanding the Brain
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