Vlsi design test 17th (10 Ergebnisse)
Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Gaur, Singh Manoj (EDT); Zwolinski, Mark (EDT); Laxmi, Vijay (EDT); Boolchandani, D. (EDT); Sing, Virendra (EDT)
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science)
Manoj Singh Gaur, Mark Zwolinski, Vijay Laxmi, D. Boolchandani, Adit Singh, Virendra Sing
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | Manoj Singh Gaur (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642420238 | Verantwortliche Person für die EU: Springer… Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers…discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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