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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Anbieter: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ ILAB VDA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 16,00
Währung umrechnenEUR 3,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorb1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Anbieter: diakonia secondhand, München, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 40,66
Währung umrechnenEUR 4,00 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Verlag: Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Sprache: Englisch
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 68,31
Währung umrechnenEUR 15,06 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: New.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 79,46
Währung umrechnenEUR 10,26 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xxx + 777 Illus.
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,62
Währung umrechnenEUR 11,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 99,74
Währung umrechnenEUR 2,30 für den Versand innerhalb von/der DeutschlandAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xxx + 777.
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EUR 102,51
Währung umrechnenEUR 7,73 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. xxx + 777.
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VLSI Test Principles and Architectures
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 116,10
Währung umrechnenEUR 11,59 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
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EUR 104,11
Währung umrechnenEUR 25,76 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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EUR 36,38
Währung umrechnenEUR 97,87 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Anbieter: BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,73
Währung umrechnenEUR 37,78 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den Warenkorbhardcover. Zustand: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Verlag: Morgan Kaufmann Publishers, 2006
ISBN 10: 1493300865 ISBN 13: 9781493300860
Sprache: Englisch
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 235,25
Währung umrechnenEUR 28,98 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: New. New. book.
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VLSI TEST PRINCIPLES & ARCHITECTURES
Verlag: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, 2006
ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Sprache: Englisch
EUR 240,00
Währung umrechnenEUR 17,50 für den Versand von Spanien nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbZustand: Usado - bueno.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 68,50
Währung umrechnenEUR 40,00 für den Versand von Italien nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: new. Questo è un articolo print on demand.
