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X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis.
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Sehr gut. VIII, 268 S., with numerous figures, As library copy in very good condition. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 725.
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X-Ray Diffraction at Elevated Temperatures
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den Warenkorbhardcover. Zustand: Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
