Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pierre-Richard Dahoo

ISBN 10: 1786306875 ISBN 13: 9781786306876
Verlag: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Hardcover

Verkauft von Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland

AbeBooks-Verkäufer seit 27. Februar 2001

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Neu - Hardcover

Zustand: Neu

Preis: EUR 192,76 Währung umrechnen
EUR 2,00 für den Versand von Irland nach Deutschland Versandziele, Kosten & Dauer

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen