Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging Series)

Hakim, Edward B.; Pecht,Michael G. & Lall, Pradeep

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Verlag: CRC Press, Boca Raton, FL, 1997
Sprache: Englisch
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