Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)

Buch 4 von 4: Electronic Packaging

Lall, Pradeep; Pecht, Michael G.; Hakim, Edward B.

ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Verlag: CRC Press, 1997
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Ausreichend Hardcover

Verkauft von Budget Books, Pasadena, CA, USA

AbeBooks-Verkäufer seit 26. Juni 2023

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Gebraucht - Hardcover

Zustand: Gebraucht - Ausreichend

Preis:
EUR 10,52
EUR 3,40 shipping
Versand innerhalb von USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen