Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis

Siegel, Benjamin M.; Beaman, Donald R.

ISBN 10: 0471790206 ISBN 13: 9780471790204
Verlag: John Wiley & Sons Ltd, U.S.A., 1975
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Gut Hardcover

Verkauft von Charles Berry, Bookseller, Lakeport, CA, USA

AbeBooks-Verkäufer seit 5. März 2026

Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen 5 Sterne, Erfahren Sie mehr über Verkäufer-Bewertungen

Alle Artikel dieses Verkäufers anzeigen


Gebraucht - Hardcover

Zustand: Gebraucht - Gut

Preis:
EUR 16,28
EUR 3,69 Versand
Versand innerhalb von USA

Anzahl: 1 verfügbar

In den Warenkorb legen