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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques: 494 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science) - Softcover
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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.
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- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum1999
- ISBN 10 1461372313
- ISBN 13 9781461372318
- EinbandTapa blanda
- Anzahl der Seiten272
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Failure Analysis of Integrated Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science) by C.Wagner, Lawrence [Paperback ]
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Buchbeschreibung Soft Cover. Zustand: new. Bestandsnummer des Verkäufers 9781461372318
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Verlag:
Springer US Nov 2012
(2012)
ISBN 10: 1461372313
ISBN 13: 9781461372318
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Taschenbuch
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Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 272 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781461372318
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Failure Analysis of Integrated Circuits
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Springer US
(2012)
ISBN 10: 1461372313
ISBN 13: 9781461372318
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Kartoniert / Broschiert
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Buchbeschreibung Kartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This must have reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical fa. Bestandsnummer des Verkäufers 4195376
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
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Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers. Bestandsnummer des Verkäufers 9781461372318
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