"Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement": 15 (Frontiers in Electronic Testing) - Softcover
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
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- VerlagSpringer
- Erscheinungsdatum2013
- ISBN 10 1475782918
- ISBN 13 9781475782912
- EinbandTapa blanda
- Anzahl der Seiten260
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Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement
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"Design for At-Speed Test, Diagnosis and Measurement" (Frontiers in Electronic Testing) by Nadeau-Dostie, Benoit [Paperback ]
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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
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Springer US Apr 2013
(2013)
ISBN 10: 1475782918
ISBN 13: 9781475782912
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Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9781475782912
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Buchbeschreibung Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. Bestandsnummer des Verkäufers 9781475782912
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Verlag:
Springer-Verlag New York Inc.
(2013)
ISBN 10: 1475782918
ISBN 13: 9781475782912
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Buchbeschreibung Paperback / softback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days. Bestandsnummer des Verkäufers C9781475782912
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Buchbeschreibung Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as a. Bestandsnummer des Verkäufers 4208106
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Springer-Verlag New York Inc.
(2013)
ISBN 10: 1475782918
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Buchbeschreibung Zustand: New. Editor(s): Nadeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: THR; TJFC. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 254 x 178 x 14. Weight in Grams: 500. . 2013. Softcover reprint of the original 1st ed. 2000. Paperback. . . . . Bestandsnummer des Verkäufers V9781475782912
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